Nd: YVO4 – Diode Pompel Solid-State Laser
Produit Beschreiwung
Nd: YVO4 kann mächteg a stabil IR produzéiere, gréng, blo Laser mam Design vun Nd: YVO4 a Frequenz Verdueblung Kristaller. Fir d'Applikatiounen an deenen méi kompakten Design an de Single-longitudinal-Modus Output gebraucht ginn, weist Nd: YVO4 seng besonnesch Virdeeler iwwer aner allgemeng benotzt Laserkristaller.
Virdeeler vum Nd: YVO4
● Niddereg lasende Schwelle an héich Steigungseffizienz
● Grouss stimuléiert Emissioun Querschnitt bei lasende Wellelängt
● Héich Absorptioun iwwer eng breet Pompelwellelängtbandbreedung
● Optesch uniaxial a grouss birefringence emittéiert polariséiert Laser
● Niddereg Ofhängegkeet vun der Pompelwellelängt an tendéieren zu Single Modus Output
Basis Eegeschaften
Atomdicht | ~1,37x1020 Atomen/cm2 |
Kristallstruktur | Zirkon Tetragonal, Raumgrupp D4h, a=b=7.118, c=6.293 |
Dicht | 4,22 g/cm2 |
Mohs Hardness | Glasähnlech, 4,6 ~ 5 |
Thermesch Erweiderung Koeffizient | αa=4.43x10-6/K, αc=11.37x10-6/K |
Schmelzpunkt | 1810 ± 25 ℃ |
Lasing Wellelängten | 914 nm, 1064 nm, 1342 nm |
thermesch optesch Koeffizient | dna/dT=8.5x10-6/K, dnc/dT=3.0x10-6/K |
Stimuléiert Emissioun Querschnitt | 25.0x10-19 cm2, @1064 nm |
Fluorescent Liewensdauer | 90 ms (ongeféier 50 ms fir 2 atm% Nd dotéiert) @808nm |
Absorptiounskoeffizient | 31,4 cm-1 @ 808 nm |
Absorptioun Längt | 0,32 mm @ 808 nm |
Intrinsesch Verloscht | Manner 0,1% cm-1, @1064 nm |
Bandwidth gewannen | 0,96 nm (257 GHz) @ 1064 nm |
Polariséiert Laser Emissioun | parallel zur optescher Achs (c-Achs) |
Diode gepompelt Optesch zu Optesch Effizienz | > 60% |
Sellmeier Equation (fir pure YVO4 Kristaller) | no2(λ) =3,77834+0,069736/(λ2 - 0,04724) - 0,0108133λ2 |
no2(λ) =4,59905+0,110534/(λ2 - 0,04813) - 0,0122676λ2 |
Technesch Parameteren
Nd Dotatioun Konzentratioun | 0,2 ~ 3 atm% |
Dopant Toleranz | bannent 10% vun der Konzentratioun |
Längt | 0,02 ~ 20 mm |
Beschichtung Spezifizéierung | AR @ 1064nm, R< 0,1% & HT @ 808nm, T>95% |
HR @ 1064nm, R>99,8% & HT @ 808nm, T>9% | |
HR @ 1064nm, R>99.8%, HR @ 532 nm, R>99% & HT @ 808 nm, T>95% | |
Orientéierung | a-Schnëtt kristallin Richtung (+/-5 ℃) |
Dimensiounstoleranz | +/-0.1mm (typesch), Héich Präzisioun +/-0.005mm kann op Ufro verfügbar sinn. |
Wavefront Verzerrung | <λ/8 bei 633nm |
Uewerfläch Qualitéit | Besser wéi 20/10 Scratch / Dig pro MIL-O-1380A |
Parallelismus | < 10 Bousekonnen |
Schreift äre Message hei a schéckt en un eis